Особливості електричних характеристик напівізолюючих кристалів CdTe-Сl

Abstract

Досліджено електричні властивості напівізолюючих кристалів CdTe-Сl, вирощених вертикальним методом Бріджмена та методом рухомого нагрівника. Встановлено, що метод рухомого нагрівника забезпечує електронну провідність, а вертикальний метод Бріджмена – діркову. При 300 К питомий опір зразків становить ρ = (108-109) Омсм, холлівська рухливість: дірок µp = (45 - 55) см2/В•с, електронів µn ≈ (10 - 20) см2/В•с. Дуже низькі значення і експоненційна температурна залежність µn зумовлені дрейфовими бар’єрами з висотою εb ≈ 0,20 еВ. Формування останніх пов’язане з флуктуаціями потенціального рельєфу за рахунок мікронеоднорідностей дефектно-домішкової системи. Крім того, в зразках n-CdTe-Cl мають місце квазіфотохімічні реакції, що полягають у зменшенні рухливості електронів після фотозбудження. В зразках p-CdTe-Cl не виявлено ні дрейфових бар’єрів, ні квазіфотохімічних реакцій.