Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/25625
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГорічок, Ігор Володимирович-
dc.date.accessioned2026-06-25T06:51:28Z-
dc.date.available2026-06-25T06:51:28Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.citationТочкові дефекти у напівпровідникових кристалах : навчальний посібник. Івано-Франківськ : Карпатський національний університет імені Василя Стефаника, 2026. 269 с.uk_UA
dc.identifier.isbn978-966-640-593-0-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/25625-
dc.description.abstractУ посібнику описано основні типи дефектів у кристалах та методи їх дослідження. Головний акцент зроблено на аналізі природи точкових дефектів: механізмів їх утворення та факторів, що впливають на концентрацію. Розглянуто аналітичні та експериментальні методи визначення термодинамічних параметрів дефектів, зокрема, ентальпій утворення та енергій йонізації. Викладено основи методів розрахунку концентрацій точкових дефектів з наведеними прикладами конкретного застосування.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherКарпатський національний університет імені Василя Стефаникаuk_UA
dc.titleТочкові дефекти у напівпровідникових кристалахuk_UA
dc.typeBookuk_UA
Appears in Collections:Навчальні матеріали (ФТФ)



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.