Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/6841Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Салій, Ярослав Петрович | - |
| dc.date.accessioned | 2020-05-05T17:51:17Z | - |
| dc.date.available | 2020-05-05T17:51:17Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Салій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16. - № 1. - С. 79-82. | uk_UA |
| dc.identifier.other | 10.15330/pcss.16.1.79-82 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/6841 | - |
| dc.description.abstract | Виконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметру. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
| dc.subject | телурид олова | uk_UA |
| dc.subject | атомно-силова мікроскопія | uk_UA |
| dc.subject | кристалографія | uk_UA |
| dc.title | Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді | uk_UA |
| dc.title.alternative | Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Розташовується у зібраннях: | Т. 16, № 1 | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 716-2295-1-SM.pdf | 159.17 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.