Растрова електронна та атомно - силова мікроскопії радіолізу поверхонь плівок CsI при високоінтенсивному електронному опроміненні

Abstract

У роботі наведені результати дослідження методами растрової електронної та атомно-силової мікроскопій закономірностей процесів деструкції, дефектоутворення і радіолізу поверхні плівок СsІ при опроміненні електронами середніх енергій у широкому діапазоні потужностей і доз опромінення. Оцінено потужності та дози опромінення, при яких відбувається поява фазових наноутворень та нано- і мікропор на поверхні СsІ, що отримано вперше методом атомно-силової мікроскопії на нанорівні. Встановлені дози електронного опромінення, при яких має місце радіоліз поверхні плівок СsІ з “виділенням” нано- і мікрофаз та формування наноутворень на них.