http://hdl.handle.net/123456789/14940 Fri, 15 May 2026 09:53:37 GMT 2026-05-15T09:53:37Z http://hdl.handle.net/123456789/15254 Title: Растрова електронна та атомно - силова мікроскопії радіолізу поверхонь плівок CsI при високоінтенсивному електронному опроміненні Authors: Галій, Павло Васильович; Ненчук, Тарас Миколайович; Поплавський, Омелян Павлович; Тузяк, Оксана Ярославівна Abstract: У роботі наведені результати дослідження методами растрової електронної та атомно-силової мікроскопій закономірностей процесів деструкції, дефектоутворення і радіолізу поверхні плівок СsІ при опроміненні електронами середніх енергій у широкому діапазоні потужностей і доз опромінення. Оцінено потужності та дози опромінення, при яких відбувається поява фазових наноутворень та нано- і мікропор на поверхні СsІ, що отримано вперше методом атомно-силової мікроскопії на нанорівні. Встановлені дози електронного опромінення, при яких має місце радіоліз поверхні плівок СsІ з “виділенням” нано- і мікрофаз та формування наноутворень на них. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT http://hdl.handle.net/123456789/15254 2012-01-01T00:00:00Z http://hdl.handle.net/123456789/15251 Title: Діагностика магнітної анізотропії епітаксійних плівок ферогранатів Authors: Ющук, Степан Іванович; Юр’єв, Сергій Олексійович Abstract: Проаналізовано причини виникнення одновісної магнітної анізотропії (ОМА) в епітаксійних плівках ферогранатів. Запропоновано метод вимірювання поля ( K H ) ОМА. В основу методу покладено визначення з допомогою ефекту Фарадея залежності поздовжньої сприйнятливості плівкового зразка від поперечного постійного магнітного поля, перпендикулярного до вісі легкого намагнічування. Наведено блок-схему вимірювальної установки. Відносна похибка вимірювання K H не перевищує 5 %. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT http://hdl.handle.net/123456789/15251 2012-01-01T00:00:00Z http://hdl.handle.net/123456789/15159 Title: Дослідження стабільності параметрів транзисторних термосенсорів під дією рентгенівського опромінення та магнітного поля Authors: Павлик, Богдан Васильович; Леновенко, А. М.; Грипа, Андрій Сергійович Abstract: Представлені параметри, яким повинні відповідати кремнієві транзистори, придатні для використання в термометрії. Досліджено вплив рентгенівського опромінення (Х - променів) та слабких магнітних полів на електрофізичні характеристики термосенсорів на базі p-n-переходу транзистора 2Т363А. З аналізу змін вольт-амперних (ВАХ) та вольт-фарадних характеристик (ВФХ), показано, що на початковій стадії рентгенівського опромінення спостерігається збільшення ефективності рекомбінаційних процесів в області просторового заряду і незначне зменшення величини прямого струму ВАХ, що можна пояснити ефектом руйнування метастабільних структурних дефектів бази транзистора. Зовнішнє магнітне поле (В = 0,17 Тл) практично не змінює ефективності рекомбінаційних процесів в ОПЗ, але проявляє вплив на дифузійну компоненту прямого струму через p-n-перехід. Дія рентгенівських променів (D < 325 Гр) і магнітних полів (експозиція до 15 годин) практично не змінила вольт-температурні характеристики, з чого можна зробити висновок про стабільність робочих характеристик у вищезгаданих умовах. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT http://hdl.handle.net/123456789/15159 2012-01-01T00:00:00Z http://hdl.handle.net/123456789/15158 Title: Автоматизація вимірювань електричних параметрів напівпровідникових плівок Authors: Фреїк, Дмитро Михайлович; Дзундза, Богдан Степанович; Ткачук, Андрій Іванович; Кушнір, Т. П. Abstract: Описано методику вимірювання електричних параметрів напівпровідникових плівок. Представлена електрична схема та розроблена комп’ютерна програма, що забезпечує автоматизацію вимірювань, реєстрацією і первинною обробку даних, з можливість побудови графіків часових залежностей для попереднього аналізу експериментальних даних вже в процесі вимірювання. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT http://hdl.handle.net/123456789/15158 2012-01-01T00:00:00Z