<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
  <channel>
    <title>DSpace Collection:</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/12537</link>
    <description />
    <pubDate>Thu, 14 May 2026 13:04:34 GMT</pubDate>
    <dc:date>2026-05-14T13:04:34Z</dc:date>
    <item>
      <title>Моделювання процесів росту на поверхні кристалів</title>
      <link>http://hdl.handle.net/123456789/12763</link>
      <description>Title: Моделювання процесів росту на поверхні кристалів
Authors: Політанський, Руслан Леонідович; Горбулик, Володимир Іванович; Когут, Ігор Тимофійович; Вістак, Марія Володимирівна
Abstract: У статті розглядаються моделі процесів росту плівок та інших структур на поверхнях кристалів, які мають подібну кристалічну структуру із незначним параметром невідповідності граток речовин, із яких утворені плівка та кристалічна підкладка. Проведений огляд методів моделювання, що основані на аналітичних співвідношення та обчислювальних алгоритмах. Розглянуто ряд методів моделювання найбільш типових процесів: формування поверхні у вигляді пірамідальних утворень (так звані голчасті кристали), двовимірний із початковими острівцями росту та тривимірний нерівномірний процеси росту. Для моделювання процесу росту голчастих кристалів запропоновано використовувати метод, що оснований на гаусовій статистиці приростів висоти поверхні. Розглянуто також модель тривимірного росту кристалічної поверхні, яка використовує ітераційний алгоритм Фосса, і яка дає можливість дослідити процеси ступінчатого, нерівномірного росту кристалів. На противагу ступінчатому росту розглянуто модель субмоноатомного росту плівки, що основана на методі Монте-Карло. Для субмоноатомного росту плівки застосовано псевдовипадкові послідовності, які моделюють початкове розміщення острівців зародження наступного шару на кристалічній поверхні. Визначені обчислювальні характеристики цього методу, а саме залежність числа ітерацій, необхідних для заповнення поверхні цілком, від коефіцієнту початкового заповнення поверхні.</description>
      <pubDate>Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://hdl.handle.net/123456789/12763</guid>
      <dc:date>2022-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Дослідження впливу складу електроліту на структуру та властивості покриттів, отриманих методом мікродугового оксидування</title>
      <link>http://hdl.handle.net/123456789/12762</link>
      <description>Title: Дослідження впливу складу електроліту на структуру та властивості покриттів, отриманих методом мікродугового оксидування
Authors: Субботіна, Валерія Валеріївна; Білозеров, Валерій Володимирович; Субботін, О. В.; Бармін, О. Є.; Григор’єва, С. В.; Писарська, Н. В.
Abstract: Алюмінієві сплави, поряд з позитивними властивостями –  низька щільність, висока питома міцність, електропровідність, пластичність, в'язкість та інші, володіють недоліками: низькі твердість, модуль пружності, зносостійкість і висока хімічна активність у багатьох неорганічних кислотах.&#xD;
Усунути ці недоліки може метод мікродугового оксидування (МДО). Перетворення поверхневих шарів оброблюваної деталі у високотемпературні оксиди алюмінію дозволить забезпечити зміцнення поверхні та підвищити її захисні властивості.&#xD;
Властивості МДО-покриттів залежить від багатьох факторів, одним з них є склад електроліту. Згідно з літературними даними, найбільш широко застосовуються лужно-силікатні електроліти, які показали найбільшу ефективність при мікродуговому оксидуванні алюмінієвих сплавів. Наявні в літературі дані щодо використання багатокомпонентних електролітів, які містять алюмінат натрію NaAlO2 та гексаметафосфат натрію Na6Р6O18  не дозволяють з'ясувати їх роль у процесі формування МДО-покриттів.&#xD;
Дослідження застосування гексаметафосфату до лужно-силікатного електроліту показали, що Na6Р6O18 сприяє утворенню більш товстішого покриття. Швидкість формування товщини за відсутності гексаметафосфату складає 0,5 ÷ 0,7 мкм/хв, а при вмісті гексаметафосфату 10 г/л – 0,9 ÷ 1,1 мкм/хв. Що стосується впливу на фазовий складу то впливу не виявлено.&#xD;
Досліджено, що додавання до лужно-силікатних електролітів алюмінату натрію в кількості до 13 г/л не чинить суттєвого впливу на товщину покриття,  але впливає на фазовий склад покриття.</description>
      <pubDate>Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://hdl.handle.net/123456789/12762</guid>
      <dc:date>2022-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Математична модель частотного перетворювача тиску на основі резонансно- тунельного діода</title>
      <link>http://hdl.handle.net/123456789/12761</link>
      <description>Title: Математична модель частотного перетворювача тиску на основі резонансно- тунельного діода
Authors: Осадчук, Олександр Володимирович; Осадчук, Володимир Степанович; Осадчук, Ярослав Олександрович
Abstract: У роботі представлено конструкцію сенсора тиску з частотним вихідним сигналом, що базується на фізичних процесах у резонансно-тунельному діоді під дією тиску. Використання приладів з від’ємним диференціальним опором дозволяє значно спростити конструкцію сенсорів тиску у всьому радіочастотному діапазоні. Залежно від режимів роботи сенсора, вихідний сигнал може бути отриманий у вигляді гармонійних коливань. Дослідження характеристик сенсора тиску базується на повній еквівалентній схемі резонансно-тунельного діода, що враховує його ємнісні та індуктивні властивості. Розроблено математичну модель сенсора тиску, на основі якої визначено аналітичні залежності зміни елементів тунельно-резонансного діода від тиску, а також функції перетворення та чутливості сенсора. Показано, що основний внесок у зміну функції перетворення та чутливості сенсора вносить зміна від’ємного диференціального опору зі зміною тиску. Це, у свою чергу, приводить до зміни вихідної частоти приладу. Чутливість сенсора змінювалась від 1,15 кГц/Па•105 до 14,16 кГц/Па•105 у діапазоні тиску від 50•105 Па до 350•105 Па.</description>
      <pubDate>Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://hdl.handle.net/123456789/12761</guid>
      <dc:date>2022-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Нелінійне моделювання сорбції іонів Феруму бентонітом в рамках теоретичних моделей</title>
      <link>http://hdl.handle.net/123456789/12760</link>
      <description>Title: Нелінійне моделювання сорбції іонів Феруму бентонітом в рамках теоретичних моделей
Authors: Степова, Катерина Вікторівна; Сиса, Леонід Володимирович; Конанець, Роман Миколайович
Abstract: Проведено порівняльне дослідження придатності адсорбційних моделей для опису експериментальних ізотерм адсорбції іонів Феруму на двох зразках: природного бентоніту та бентоніту опроміненого НВЧ-опроміненням. Ізотерми сорбції описані за допомогою теорій Ленгмюра, Фрейндліха, Редліха-Петерсона та Ленгмюра-Фрейндліха. Визначені константи та параметри зазначених рівнянь. Нелінійне моделювання експериментальних даних в рамках теоретичних моделей ізотерм продемонструвало, що адсорбція нативним бентонітом відповідає трипараметричній моделі Редліха-Петерсона, а НВЧ-опроміненим – ізотермі Фрейндліха. Таке моделювання дає змогу передбачити максимальну адсорбційну здатність, що складає 37,7 мг/г природного бентоніта та 64,4 мг/г модифікованого зразка.</description>
      <pubDate>Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://hdl.handle.net/123456789/12760</guid>
      <dc:date>2022-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
  </channel>
</rss>

