<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <channel rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/13329">
    <title>DSpace Collection:</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/13329</link>
    <description />
    <items>
      <rdf:Seq>
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/13884" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/13882" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/13878" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/13877" />
      </rdf:Seq>
    </items>
    <dc:date>2026-05-15T10:38:43Z</dc:date>
  </channel>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/13884">
    <title>Технологічні особливості сухої вакуумної літографії для формування субмікронних структур ВІС</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/13884</link>
    <description>Title: Технологічні особливості сухої вакуумної літографії для формування субмікронних структур ВІС
Authors: Новосядлий, Степан Петрович; Атаманюк, Роман Богданович; Сорохтей, Тарас Романович; Мельник, Л. В.; Возняк, Юрій Володимирович
Abstract: Важлива проблема сучасної мікроелектроніки – це створення нових матеріалів та вакуумних процесів на&#xD;
їх основі, які б дозволили об‘єднати технологічні операції виготовлення субмікронних структур в єдиному&#xD;
автоматизованому циклі і досягнути степені інтеграції 8 10 7 10- - - елементів на кристалі з використання&#xD;
кластерного обладнання. Саме проблема технологічної інтеграції в значній степені стримується&#xD;
літографічними процесами , з допомогою яких формується необхідна конфігурація окремих елементів&#xD;
мікросхеми. Сьогодні ці процеси здійснюються хімічними методами, які основані на рідинних процесах, що і&#xD;
порушує єдність замкнутого технологічного циклу і вимагає великих витрат високо отруйних розчинників.&#xD;
Тут треба підкреслити , що на обробку єдиної кремнієвої пластини витрачається 5л органічних розчинників.&#xD;
Рідинні процеси літографії є серйозним бар‘єром в отриманні субмікронних розмірів (&lt;1мкм) внаслідок&#xD;
ізотропності процесів проявлення і травлення Таким чином , існуюча літографія не відповідає сучасним&#xD;
вимогам технології формування структур ВІС. Матеріали даної статті визначають сучасні методи сухої&#xD;
літографії в контексті формування суб-і наномікронних структур швидких ВІС .</description>
    <dc:date>2012-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/13882">
    <title>Дослідження Ga-In в контакті з Si, Ge і SiGe дротами для сенсорної техніки</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/13882</link>
    <description>Title: Дослідження Ga-In в контакті з Si, Ge і SiGe дротами для сенсорної техніки
Authors: Дружинін, Анатолій Олександрович; Ховерко, Юрій Миколайович; Островський, Ігор Петрович; Нічкало, Степан Ігорович; Ніколаєва, А. А.; Конопко, Л. А.; Стич, І.
Abstract: Опір і магнітоопір Si, Ge і Si-Ge мікро-і нанодротів досліджувалися в температурному діапазоні 4,2 –&#xD;
300 К в магнітних полях до 14 Тл. Діаметри дротів від 200 нм до 20 мкм. Ga-In шлюзи були створені для&#xD;
дротів і досліджені омічні характеристики I-U на всьому температурному діапазоні. Було встановлено, високі&#xD;
пружні деформації для нанодротів Ge (близько 0,7%), а також високий магнітоопір (близько 250% при 14 Тл),&#xD;
що було використано для розробки багатофункціональних датчиків одночасного вимірювання напруги і&#xD;
напруженості магнітного поля.</description>
    <dc:date>2012-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/13878">
    <title>The Process of Periodic Structures Fabrication in Photocurable Composite Materials</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/13878</link>
    <description>Title: The Process of Periodic Structures Fabrication in Photocurable Composite Materials
Authors: Vorzobova, N.; Bulgakova, V.; Burunkova, Yu.; Moskalenko, A.
Abstract: Possibility of interference method realization using monomeric compositions and nanocomposites is shown.&#xD;
Periodic structures with submicronic and nanoscale elements and diffraction efficiency up to 50 % were obtained. It&#xD;
is shown that ZnO nanoparticle doping and nanoparticle concentration increasing leads to diffraction efficiency&#xD;
growth. Probable mechanisms and a role of diffusion processes at structures formation are determined.</description>
    <dc:date>2012-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/13877">
    <title>Тонкі плівки пористого оксиду алюмінію, одержані імпульсним лазерним осадженням, для поверхневих плазмон-поляритонних сенсорних структур</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/13877</link>
    <description>Title: Тонкі плівки пористого оксиду алюмінію, одержані імпульсним лазерним осадженням, для поверхневих плазмон-поляритонних сенсорних структур
Authors: Ушенін, Ю. В.; Христосенко, Роман Васильович; Самойлов, Антон Володимирович; Громовий, Юрій Сергійович; Каганович, Елла Борисівна; Манойлов, Едуард Геннадійович; Кравченко, С. О.; Снопок, Борис Анатолійович
Abstract: Імпульсним лазерним осадженням зі зворотного низькоенергетичного потоку частинок ерозійного&#xD;
факелу на золоту поверхню перетворювачів поверхневого плазмонного резонансу (ППР), розташованих в&#xD;
площині мішені були отримані тонкі плівки пористого оксиду алюмінію. Виміряні кутові залежності ППР в&#xD;
геометрії Кречмана були апроксимовані оптичною моделлю на основі рівнянь Френеля з ефективним&#xD;
показником заломлення (1.30 – 1.17) і коефіцієнтом екстинкції (k ≈ 0) для плівок товщиною 200 – 35 нм. На&#xD;
основі аналізу даних ППР досліджень, мікроскопії атомних сил і кварцевого мікробалансу була&#xD;
запропонована модель формування пористих плівок оксиду алюмінію. Отримані плівки можуть бути&#xD;
використані для створення різноманітних елементів плазмонної оптоелектроніки, зокрема, високочутливих&#xD;
елементів оптоелектронних сенсорних систем для аналізу в газах або рідинах.</description>
    <dc:date>2012-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
</rdf:RDF>

