<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <channel rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/10746">
    <title>DSpace Collection:</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/10746</link>
    <description />
    <items>
      <rdf:Seq>
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/10803" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/10802" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/10801" />
        <rdf:li rdf:resource="http://hdl.handle.net/123456789/10800" />
      </rdf:Seq>
    </items>
    <dc:date>2026-05-15T10:35:56Z</dc:date>
  </channel>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/10803">
    <title>Оптичні та структурно-дефектні характеристики нанокристалів CdS:Cu і CdS:Zn, синтезованих в полімерних матрицях</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/10803</link>
    <description>Title: Оптичні та структурно-дефектні характеристики нанокристалів CdS:Cu і CdS:Zn, синтезованих в полімерних матрицях
Authors: Корбутяк, Дмитро Васильович; Токарев, С. В.; Будзуляк, Сергій Іванович; Кладько, Василь Петрович; Поліщук, Юлія Олегівна; Шевчук, О. М.; Ільчук, Григорій Архипович; Токарев, Віктор Сергійович
Abstract: Розроблено технологію синтезу нанокристалів (НК) CdS:Cu та CdS:Zn в полімерних матрицях,&#xD;
проведено комплексні дослідження спектрів оптичного поглинання, фотолюмінесценції та&#xD;
рентгеноструктурного аналізу НК CdS в залежності від концентрації введених домішок Cu і Zn в межах&#xD;
(1 ¸ 10) %. Встановлено, що домішка Cu зосереджується на поверхні НК, пасивуючи дефекти&#xD;
вакансійного типу, які є поверхневими випромінювальними центрами. Домішка цинку, навпаки, проникає&#xD;
в об’єм НК CdS, створюючи додаткові поверхневі дефекти – центри випромінювальної рекомбінації.&#xD;
Внаслідок цього постійна кристалічної гратки НК CdS зменшується від d = 0,585 нм (для нелегованих НК&#xD;
CdS) до d = 0,581 нм (для легованих цинком НК CdS до рівня NZn = 10 %).</description>
    <dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/10802">
    <title>Властивості анізотипних гетеропереходів n-CdO–p-InSe</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/10802</link>
    <description>Title: Властивості анізотипних гетеропереходів n-CdO–p-InSe
Authors: Катеринчук, Валерій Миколайович; Кудринський, Захар Русланович; Хомяк, В. В.; Орлецький, Іван Григорович; Нетяга, Віктор Васильович
Abstract: Вперше виготовлені анізотипні гетеропереходи n-CdO-p-InSe на основі шаруватих кристалів InSe.&#xD;
Досліджені температурні залежності вольт-амперних характеристик гетеропереходів і визначені&#xD;
механізми струмопроходження через бар'єр при прямому і зворотному зміщеннях. Встановлена область їх&#xD;
фоточутливості.</description>
    <dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/10801">
    <title>Релаксація деформацій у гетероструктурах Si/Ge з квантовими точками</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/10801</link>
    <description>Title: Релаксація деформацій у гетероструктурах Si/Ge з квантовими точками
Authors: Курилюк, Василь Васильович; Коротченков, Олег Олександрович; Надточій, Андрій Борисович
Abstract: З використанням методу скінченних елементів чисельно досліджено вплив тонкого шару SiО2,&#xD;
розташованого між підкладкою Si і Ge квантовими точками на релаксації напружень в підкладці. Також&#xD;
аналізуються супутні зміни зонної структури поблизу границі розділу. Експериментальні розподіли&#xD;
поверхневої фото-е.р.с. по поверхні зразків дозволяють виявити загальну структуру просторового&#xD;
розподілу фотогенерованих електронів і дірок поблизу границі розділу, що має відношення до розподілу&#xD;
центрів захоплення.</description>
    <dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="http://hdl.handle.net/123456789/10800">
    <title>Фотоелектричні характеристики гетероструктур ZnO/CuO</title>
    <link>http://hdl.handle.net/123456789/10800</link>
    <description>Title: Фотоелектричні характеристики гетероструктур ZnO/CuO
Authors: Крегель, О. П.; Турко, Борис Ігорович; Панасюк, Мирон Романович; Дубов, Юрій Георгійович; Капустяник, Володимир Богданович; Лубочкова, Г. О.
Abstract: Методом високочастотного магнетронного розпилення отримано гетероперехід n-ZnO/p-СuO.&#xD;
Вперше досліджено фоточутливість такої гетероструктури у діапазоні довжин хвиль від 600 до 2000 нм.&#xD;
Встановлено, що фотодіод має максимальну чутливість на довжинах хвиль 900-1100 нм. Крім цього,&#xD;
виявлено помітну чутливість в області довжин хвиль 1400 - 1600 нм, яку було пов’язано з&#xD;
фотодесорбцією кисню з верхнього шару ZnO. Виготовлений на основі структури n-ZnO/p-СuO фотодіод&#xD;
може бути використаний для детектування фотонів інфрачервоної ділянки спектру.</description>
    <dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
</rdf:RDF>

